分體式塗層測厚儀 CT-TH-304
產品介紹
本儀器採用分體式設計，由觸控螢幕主機與數位式探頭組成。主機可自動辨識不同型號的探頭，目前支援 8 種探頭搭配使用，可依不同測量需求靈活選擇適合的探頭。
儀器適用於小型工件、孔洞、管道內壁及油漆、塗料等表面塗層厚度測量。使用者可依據工件形狀、測量位置及應用需求選擇適合的探頭，提升不同測量場合的便利性與適用範圍。
多種探頭可選
儀器提供 8 種不同型號的探頭可供選擇，可依被測材料、工件形狀及塗層厚度選擇適合的探頭，以滿足不同測量需求。
※ 探頭為選配配件，需另行購買，非標準配備。
探頭選擇
| 項次 | 探頭型號 | 測量範圍 | 探頭特色與應用 |
|---|---|---|---|
| 1 | F600-X0 | 0～600 μm | 鐵基，直式探頭，超小測頭，適用於小型工件薄鍍層厚度測量 |
| 2 | NF1600-X0 | 0～1600 μm | 非鐵基，直式探頭，超小測頭，適用於小型工件陽極氧化層厚度測量 |
| 3 | FNF2000-X0 | 0～2000 μm | 雙基，直式探頭，一般量程，適用於塗料、油漆等塗層厚度測量 |
| 4 | FNF5000-X0 | 0～5000 μm | 雙基，直式探頭，大量程，適用於塗料、油漆等塗層厚度測量 |
| 5 | FNF20000-X0 | 10～20,000 μm | 雙基，直式探頭，超大量程，適用於防火塗層、厚塗料等厚膜測量 |
| 6 | FNF2000-X1 | 0～2000 μm | 雙基，90°直角探頭，適用於孔洞、狹縫等位置的塗層與鍍層厚度測量 |
| 7 | F2000-X2 | 0～2000 μm | 鐵基，90°長桿探頭，適用於管內壁、細槽等狹窄位置的塗層與鍍層厚度測量 |
| 8 | NF2000-X2 | 0～2000 μm | 非鐵基，90°長桿探頭，適用於管內壁、細槽等狹窄位置的塗層與鍍層厚度測量 |
超小測頭，適用小型工件
搭配超小型測頭，可輕鬆測量小型工件及異型材料表面的塗層厚度，適合細小區域及特殊形狀工件的測量需求。
90° 直角探頭，適用孔洞與狹縫
採用 90° 直角設計，探頭可深入孔洞及狹窄縫隙進行測量，適用於鐵基與非鐵基金屬表面的塗層及鍍層厚度測量。
90° 長桿探頭，深入狹窄位置
90° 長桿探頭可伸入一般探頭難以到達的位置，特別適用於管道內壁、細槽等狹窄區域的塗層厚度測量。
20,000 μm 超大量程
支援最大 20,000 μm 的超大量程測量，適用於防火塗層、厚膜塗料等較厚塗層的厚度檢測。
觸控螢幕，操作直覺
主機配備 3.5 吋觸控螢幕，操作介面清晰直覺，可快速完成測量設定與數據查看。
數位探頭，提升抗干擾能力
採用數位式探頭技術，測量訊號可直接於探頭內進行處理，降低外部環境干擾對測量結果的影響，提供穩定的測量性能。
可搭配手壓測試架
提供專用手壓測試架供選購，可提供較穩定一致的測試力，降低人為操作因素造成的測量差異，提升測量穩定性。
※ 僅 F600-X0、NF1600-X0、FNF2000-X0 及 FNF5000-X0 探頭支援搭配手壓測試架使用。
1～5 點校準，提升測量準確度
支援 1～5 點校準，可依標準片或實際工件進行校準與曲線修正，以因應不同基材及測量條件，提升測量準確度。
智慧統計，快速掌握測量結果
可自動統計測量數據的最大值、最小值、平均值及標準差，免除人工計算，方便快速分析測量結果。
QC 品質管制，自動判定
內建 QC 檢測功能，可設定厚度上下限。測量完成後，儀器可自動判定結果是否落於設定範圍內，方便進行快速品質檢查。
分組儲存，方便數據管理
支援測量數據分組管理，可依不同樣品或工件建立資料組。最多可建立 100 組資料，每組可儲存最多 10,000 筆測量數據，方便後續查看與管理。
手機 APP，方便數據分享
支援連接手機 APP，可進行測量數據儲存與分享，方便現場檢測及後續資料管理。
PC 軟體，完整管理測量數據
可搭配 PC 軟體使用，將測量數據進行儲存、管理及分析，方便建立完整的檢測資料。
| 參數名稱 | 規格值 |
|---|---|
| 顯示螢幕 | 480 × 320 點陣式 IPS 彩色螢幕 |
| 電池容量 | 可充電鋰電池 3.7 V / 4000 mAh |
| 操作溫度範圍 | 0～50°C |
| 儲存溫度範圍 | -20～60°C |
| 測量單位 | μm / mm / mil / g/m²（※ g/m² 為「鍍鋅克重」，以鋅密度 7.13 g/cm³ 計算；僅搭配 F600-X0 或 F2000-X2 探頭時可選用） |
| 使用者校準 | 支援零點校準及 1～5 點校準 |
| 主機尺寸 | 141 × 71 × 22 mm |
| 重量（含電池） | 約 200 g |
| 供電電壓 | DC 5 V |
| 工作電流 | 160 mA |
| 工作功耗 | 800 mW |
F600-X0／NF1600-X0 探頭規格
| 參數名稱 | F600-X0 | NF1600-X0 |
|---|---|---|
| 探頭類型 | 常規直式 | 常規直式 |
| 測量原理 | 磁感應 | 渦流感應 |
| 基材 | 鐵磁性金屬 | 非鐵磁性金屬 |
| 測量範圍 | 0.0～600 μm | 0.0～1600 μm |
| 解析度 | 0.1 μm（0～99.9 μm） 1 μm（100～600 μm） |
0.1 μm（0～99.9 μm） 1 μm（100～1600 μm） |
| 測量精度 | ±（2%H + 0.3 μm），五點校準，H 為標準值 | |
| 測量間隔 | 1.5 秒（單次模式） 0.4 秒（連續模式） |
0.4 秒 |
| 最小基材厚度 | 0.1 mm | 0.03 mm |
| 最小曲率半徑 | 凸面：1.5 mm | |
| 探頭尺寸（不含連接線） | 105 mm × Ø15 mm | |
| 探頭重量 | 約 55 g | |
F2000-X2／NF2000-X2／FNF2000-X1 探頭規格
| 參數名稱 | F2000-X2 | NF2000-X2 | FNF2000-X1 |
|---|---|---|---|
| 探頭類型 | 90° 長桿探頭 | 90° 直角探頭 | |
| 測量原理 | 磁感應 | 渦流感應 | 磁感應／渦流感應 |
| 基材 | 鐵磁性金屬 | 非鐵磁性金屬 | 鐵磁性金屬／非鐵磁性金屬 |
| 測量範圍 | 0.0～2000 μm | ||
| 解析度 | 0.1 μm（0～99.9 μm） 1 μm（100～2000 μm） |
||
| 測量精度 | H＜1000 μm：±（2%H + 1 μm） H≥1000 μm：±3%H（五點校準，H 為標準值） |
||
| 測量間隔 | 0.6 秒 | 0.4 秒 | 0.8 秒 |
| 最小曲率半徑 | 平面 | 凸面：3 mm | |
| 最小基材厚度 | 0.2 mm | 0.05 mm | Fe：0.2 mmNFe：0.05 mm |
| 探頭尺寸（不含連接線） | 167 × 8 × 10.8 mm | 86 × 11.5 × 22 mm | |
| 探頭重量 | 約 46 g | 約 80 g | |
FNF2000-X0／FNF5000-X0／FNF20000-X0 探頭規格
| 參數名稱 | FNF2000-X0 | FNF5000-X0 | FNF20000-X0 |
|---|---|---|---|
| 探頭類型 | 常規直式探頭 | 超大量程直式探頭 | |
| 測量原理 | 磁感應／渦流感應 | ||
| 基材 | 鐵磁性金屬／非鐵磁性金屬 | ||
| 測量範圍 | 0.0～2000 μm | 0.0～5000 μm | 10.0～20,000 μm |
| 解析度 | 0.1 μm（0～99.9 μm） 1 μm（100～2000 μm） |
0.1 μm（0～99.9 μm） 1 μm（100～5000 μm） |
0.1 μm（10～99.9 μm） 1 μm（100～20,000 μm） |
| 測量精度 | H＜1000 μm：±（2%H + 1 μm） H≥1000 μm：±3%H（五點校準，H 為標準值） |
H＜1000 μm：±（2%H + 1 μm） 1000 μm≤H＜3000 μm：±3%H H≥3000 μm：±5%H（五點校準，H 為標準值） |
H＜15,000 μm：±（3%H + 2 μm） H≥15,000 μm：±5%H（五點校準，H 為標準值） |
| 測量間隔 | 0.8 秒 | ||
| 最小曲率半徑 | 凸面：3 mm | 凸面：30 mm | |
| 最小基材厚度 | Fe：0.2 mm／NFe：0.05 mm | Fe：2 mm／NFe：1 mm | |
| 探頭尺寸 （不含連接線） |
105 mm × Ø15 mm | 71 mm × Ø50.5 mm | |
| 探頭重量 | 約 52 g | 約 216 g | |
